HA2003型低噪聲8M帶寬軌到軌運算放大器 是由深圳市乾鴻微電子有限公司自主設計，并基于國內代工廠工藝流片的模擬集成電路產品。該產品為單通道低噪聲運算放大器，具有較高的精度，同時具備高輸入阻抗、軌到軌輸入輸出、低噪聲等特性。該產品適用于光電二極管電流信號放大、精密傳感器、音頻等需要高精度且具備一定帶寬運算放大器的應用場合。

電磁干擾抑制比（EMIRR）描述了運算放大器的電磁干擾抗擾度，對許多運算放大器來說，一個常見的不利影響是射頻信號整流導致偏置電壓的變化。如果運放能更有效地抑制這種由 EMI 引起的偏置變化，則說明其 EMIRR 更高，并通過分貝值進行量化。測量 EMIRR 的方法有很多種，但本文提供的是同相輸入端IN+的 EMIRR 測試，它具體描述了當射頻信號應用于運放的同相輸入引腳時的 EMIRR 性能。出于以下三個原因，僅對同相輸入進行EMIRR 測試：

1. 運算放大器的輸入引腳對 EMI 是最敏感的，并且通常比電源或輸出引腳更好地整流射頻信號；

2. 同相和反相運放輸入具有對稱的物理布局，并表現出幾乎匹配的 EMIRR 性能；

3. 在同相引腳上測量 EMIRR 比在其他引腳上更容易，因為同相輸入端可以在 PCB 上隔離。這種隔離允許射頻信號直接應用于同相輸入終端，沒有來自其他組件或連接 PCB 走線的復雜相互作用。

圖 1 HA2003 同相輸入端 EMIRR 與頻率的關系

圖 2 顯示了測試同相輸入端 IN+的 EMIRR 的電路配置。射頻源通過傳輸線連接到運放同相輸入端。運算放大器配置為單位增益緩沖拓撲，輸出端連接低通濾波器（LPF）和數字萬用表（DMM）。

圖 2 同相輸入端 IN+的 EMIRR 測試原理圖

運放輸入處的大阻抗失配會導致電壓反射，然而，在確定 IN+的 EMIRR 時，這種影響是表征和考慮的， 產生的直流偏置電壓由萬用表采樣和測量，LPF 將萬用表與可能影響萬用表精度的殘留射頻信號隔離開來。